薄膜厚薄均勻性是流延薄膜一個非常重要的質量指標,在高速的自動化生產線中,薄膜厚度的檢測都采用高精度的、非接觸式的測厚儀和反饋系統進行自動檢測與控制。那么,如何做好流延膜厚度的測量與控制呢? 一、流延膜厚度的測量方法 薄膜厚度測量的傳感器常見的為放射性同位素測厚儀,主要的放射性同位素有:Sr—90ß射線Kr—85ß射線Pm—147ß射線X射線傳感器紅外線傳感器等。測厚儀傳感器的選用和薄膜的基重有很大關系,一般情況下Pm—147ß射線適用于測量2—200g/㎡的薄膜,Kr—85ß射線適用于10—2000g/㎡的塑